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http://dx.doi.org/10.18419/opus-7921
Autor(en): | Ströle, Albrecht P. Wunderlich, Hans-Joachim Haberl, Oliver F. |
Titel: | TESTCHIP: a chip for weighted random pattern generation, evaluation, and test control |
Erscheinungsdatum: | 1990 |
Dokumentart: | Konferenzbeitrag |
Erschienen in: | Lardy, Jean Louis (Hrsg.): ESSCIRC '90 : proceedings. Gif-sur-Yvette Cedex : Ed. Frontières, 1990. - ISBN 2-86332-087-4, S. 101-104 |
URI: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73151 http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7938 http://dx.doi.org/10.18419/opus-7921 |
Zusammenfassung: | A chip is presented that generates weighted random patterns, applies them to a circuit under test and evaluates the test responses. The generated test patterns correspond to multiple sets of weights. Test response evaluation is done by signature analysis. The chip can easily be connected to a micro computer and thus constitutes the key element of a low-cost test equipment. |
Enthalten in den Sammlungen: | 15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung |
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