A synthesis approach to reduce scan design overhead

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DC Element	Wert	Sprache
dc.contributor.author	Eschermann, Bernhard	de
dc.contributor.author	Wunderlich, Hans-Joachim	de
dc.date.accessioned	2012-04-23	de
dc.date.accessioned	2016-03-31T11:44:40Z	-
dc.date.available	2012-04-23	de
dc.date.available	2016-03-31T11:44:40Z	-
dc.date.issued	1990	de
dc.identifier.other	370124820	de
dc.identifier.uri	http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73229	de
dc.identifier.uri	http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7944	-
dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.18419/opus-7927	-
dc.description.abstract	-	de
dc.language.iso	en	de
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess	de
dc.subject.classification	Prüfprogramm , Integrierte Schaltung	de
dc.subject.ddc	621.3	de
dc.title	A synthesis approach to reduce scan design overhead	en
dc.type	conferenceObject	de
ubs.fakultaet	Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung	de
ubs.institut	Sonstige Einrichtung	de
ubs.opusid	7322	de
ubs.publikation.source	The proceedings of the European Design Automation Conference. Washington, DC : IEEE Computer Soc. Pr., 1990. - ISBN 0-8186-2024-2, S. 671	de
ubs.publikation.typ	Konferenzbeitrag	de
Enthalten in den Sammlungen:	15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung

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