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dc.contributor.authorWunderlich, Hans-Joachimde
dc.contributor.authorSchulz, Michael H.de
dc.date.accessioned2012-04-27de
dc.date.accessioned2016-03-31T11:44:40Z-
dc.date.available2012-04-27de
dc.date.available2016-03-31T11:44:40Z-
dc.date.issued1989de
dc.identifier.other370121198de
dc.identifier.urihttp://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73325de
dc.identifier.urihttp://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7949-
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.18419/opus-7932-
dc.description.abstractNeben der eigentlichen Testdurchführung umfaßt eine Teststrategie die Auswahl eines geeigneten Fehlermodells, ein Verfahren für den prüfgerechten strukturierten Entwurf und die Testsatzerzeugung. Ziel dieser Prüfvorbereitung ist die Steigerung der ProduktquaIität und die Senkung der Kosten für die Testdurchführung.de
dc.language.isodede
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessde
dc.subject.classificationPrüfprogramm , Fehlermodell , Testbarkeitde
dc.subject.ddc621.3de
dc.titleMethoden der Testvorbereitungde
dc.typeconferenceObjectde
dc.date.updated2012-04-27de
ubs.fakultaetFakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtungde
ubs.institutSonstige Einrichtungde
ubs.opusid7332de
ubs.publikation.sourceMikroelektronik für die Informationstechnik 1989 : vom 3. bis 5. Oktober 1989 in Stuttgart. Berlin : VDE-Verl., 1989 (ITG-Fachbericht 110), S. 55-62de
ubs.publikation.typKonferenzbeitragde
Enthalten in den Sammlungen:15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung

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