Please use this identifier to cite or link to this item: http://dx.doi.org/10.18419/opus-7936
Authors: Kesel, Frank
Wunderlich, Hans-Joachim
Title: Parametrisierte Speicherzellen zur Unterstützung des Selbsttests mit optimierten und konventionellen Zufallsmustern
Issue Date: 1989
metadata.ubs.publikation.typ: Konferenzbeitrag
metadata.ubs.publikation.source: Heckl, Herwig (Hrsg.): Entwurf integrierter Schaltungen. Sankt Augustin : GMD, 1989 (GMD-Studien 155). - ISBN 3-88457-155-9, S. 75-84
URI: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73366
http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7953
http://dx.doi.org/10.18419/opus-7936
Abstract: Viele Selbsttestverfahren für hochintegrierte Schaltungen beruhen auf der Erzeugung von Zufallsmustem mit rückgekoppelten Schieberegistem. Oft wird jedoch für eine ausreichende Fehlererfassung eine unwirtschaftlich große Menge von Zufallsmustern benötigt, falls diese gleichverteilt erzeugt werden. Mit ungleichverteilten Zufallsmustern kann die Testlänge entscheidend reduziert werden, ein entsprechendes Selbsttestkonzept wurde als GURT (Generator of Unequiprobable Random Tests) vorgeschlagen. Im vorliegenden Beitrag werden Grundzellen zur Synthese von Registern nach dem GURT-Prinzip vorgestellt und die Probleme beim Entwurf eines entsprechenden Syntheseprogrammes diskutiert. Anhand eines Beispiels werden die Selbsttestkonzepte nach dem GURT- und nach dem BILBO-Prinzip verglichen.
Appears in Collections:15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
wun36.pdf1,68 MBAdobe PDFView/Open


Items in OPUS are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.