Automatisierung des Entwurfs vollständig testbarer Schaltungen

Abstract

Die Kosten für die Testvorbereitung, Testerzeugung und Testdurchführung wachsen überproportional mit der Komplexität anwendungsspezifischer Schaltungen, und die Teststrategie sollte daher bereits in einer sehr frühen Phase des Schaltungsentwurfs festgelegt und berücksichtigt werden. In diesem Artikel werden logische Grundzellen und Algorithmen zur Unterstützung des pseudo-erschöpfenden Tests vorgestellt. Diese Teststrategie hat den Vorteil, daß die äußerst rechenzeitaufwendige Testmustererzeugung entfällt und zugleich eine vollständige Fehlererfassung auf Gatterebene garantiert ist. Die vorgestellten Grundzellen dienen der Zerlegung der Gesamtschaltung in erschöpfend testbare Teile, die präsentierten Algorithmen sollen diese Segmentierungszellen so plazieren, daß der Mehraufwand an Silizium gering bleibt. Hierzu wurden Varianten sogenannter "Hill-Climbing" und "Simulated-Annealing"-Verfahren entwickelt.