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dc.contributor.authorWunderlich, Hans-Joachimde
dc.date.accessioned2012-05-04de
dc.date.accessioned2016-03-31T11:44:42Z-
dc.date.available2012-05-04de
dc.date.available2016-03-31T11:44:42Z-
dc.date.issued1987de
dc.identifier.other37015505Xde
dc.identifier.urihttp://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73504de
dc.identifier.urihttp://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7961-
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.18419/opus-7944-
dc.description.abstractAn efficient Monte Carlo Algorithm is presented estimating the detection probability of each stuck at fault of a PLA. Furthermore for each primary input of the PLA the optimal probability is computed to set this input to logical "1". Using those unequiprobable input probabilities the necessary test set can be reduced by orders of magnitude. Thus a seIftest by optimized random patterns is possible even if the circuit contains large PLAs preventing a conventional random test.en
dc.language.isoende
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessde
dc.subject.classificationSelbsttest , Integrierte Schaltung , Fehlererkennungde
dc.subject.ddc621.3de
dc.titleThe random pattern testability of programmable logic arraysen
dc.typeconferenceObjectde
ubs.fakultaetFakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtungde
ubs.institutSonstige Einrichtungde
ubs.opusid7350de
ubs.publikation.sourceProceedings / 1987 IEEE International Conference on Computer Design. Washington, DC : Computer Soc. of the IEEE, 1987. - ISBN 0-8186-0802-1, S. 682-685de
ubs.publikation.typKonferenzbeitragde
Enthalten in den Sammlungen:15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung

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