Please use this identifier to cite or link to this item: http://dx.doi.org/10.18419/opus-8474
Authors: Wunderlich, Hans-Joachim
Title: Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen
Issue Date: 1987
metadata.ubs.publikation.typ: Buch
URI: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73651
http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/8491
http://dx.doi.org/10.18419/opus-8474
ISBN: 3-540-18072-9
metadata.ubs.bemerkung.extern: Berlin : Springer, 1987 (Informatik-Fachberichte 140). - Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1986 u.d.T.: Wunderlich, Hans-Joachim: Probabilistische Verfahren zur Verbesserung der Testbarkeit synthetisierter digitaler Schaltungen
Abstract: Es setzt sich heute immer mehr die Erkenntnis durch, daß anwendungsspezifische hochintegrierte Schaltungen nur dann wirtschaftlich eingesetzt werden können, wenn bereits beim Entwurf die Testerzeugung und Testdurchführung berücksichtigt werden. Um die Ausbildung für den rechnergestützten Schaltungsentwurf an der Fakultät für Informatik der Universität Karlsruhe entsprechend abzurunden, hat der Autor seit dem Wintersemester 1985/1986 die Vorlesung "Testprobleme hochintegrierter Schaltungen" angeboten. Etwa zum gleichen Zeitpunkt etablierte sich am dortigen Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz die Forschungsgruppe "Prüfgerechter Entwurf und Test". Das vorliegende Buch vereinigt die Erfahrungen aus der Vorlesung und die Ergebnisse der Forschungsgruppe. Es gibt einen Überblick über wichtige Techniken des prüfgerechten Entwurfs, des Selbsttests sowie der Testerzeugung, und es enthält zahlreiche neue Vorschläge auf diesem Gebiet.
Appears in Collections:15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung

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