Bitte benutzen Sie diese Kennung, um auf die Ressource zu verweisen: http://dx.doi.org/10.18419/opus-9397
Autor(en): Walter, Jaasiel
Titel: Testabdeckungsmaße für den Integrationstest von E/E-Systemen im Fahrzeug
Erscheinungsdatum: 2016
Dokumentart: Abschlussarbeit (Master)
Seiten: XI, 54
URI: http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/9414
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-ds-94144
http://dx.doi.org/10.18419/opus-9397
Zusammenfassung: Die vorliegende Masterarbeit beschäftigt sich mit Testabdeckungsmaßen für den Integrationstest von E/E-Systemen. E/E-Systeme bestehen aus E/E-Komponenten (z.B. Steuergeräte, Sensoren und Aktoren) und sind fester Bestandteil bzw. Zukunftstrend in der Automobilindustrie. Beispielsweise befinden sich in einer modernen Mercedes-Benz S-Klasse je nach Ausstattung ca. 100 Steuergeräte. Komponenten der E/E-Systeme werden i.d.R. von Zulieferern isoliert entwickelt, getestet und als Black-Box an den Fahrzeughersteller (OEM) übergeben. Letzterer integriert die Komponenten zu Sub-/Systemen und testet deren Zusammenwirken. Oft wird zur Bewertung der Testgüte lediglich die Anforderungsabdeckung gemessen. Ziel dieser Arbeit war die Entwicklung von ergänzenden Testabdeckungsmaßen für den black-box-orientierten Integrationstest. Weiterhin sollte ein Konzept zur Nutzung der entwickelten Maße in einer erweiterten Teststrategie entworfen werden. Da es sich bei den E/E-Komponenten um Black-Boxes handelt, sind auch die beim Softwareintegrationstest einsetzbaren Testabdeckungsmaße wie Anweisungs-, Zweig- und Pfadüberdeckung nicht direkt einsetzbar. In der Literatur konnten keine veröffentlichten Testabdeckungsmaße zu diesem Thema ermittelt werden. Daher wurden aus dem Softwaretest bekannte Testabdeckungsmaße auf den Integrationstest von E/E-Systemen übertragen. Diese basieren auf Architektur- und Schnittstellenbeschreibungen, Zustandsautomaten und Kommunikationsmatrizen. Zur Evaluierung wurde der Einsatz der Testabdeckungsmaße anhand von Fallbeispielen demonstriert und durch Expertenbefragungen bewertet.
Enthalten in den Sammlungen:05 Fakultät Informatik, Elektrotechnik und Informationstechnik



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