Echtzeitholografie mit BSO-Kristall zum Messen der Schichtdickenänderung beim Aushärten von Zwei-Komponenten-Klebstoffen

Pfister, Berthold P.; Tiziani, Hans J.

Echtzeitholografie mit BSO-Kristall zum Messen der Schichtdickenänderung beim Aushärten von Zwei-Komponenten-Klebstoffen

dc.contributor.author	Pfister, Berthold P.	de
dc.contributor.author	Tiziani, Hans J.	de
dc.date.accessioned	2011-02-24	de
dc.date.accessioned	2016-03-31T08:16:25Z
dc.date.available	2011-02-24	de
dc.date.available	2016-03-31T08:16:25Z
dc.date.issued	1987	de
dc.date.updated	2014-10-28	de
dc.description.abstract	Die Präzisions-Klebeverbindungen empfindlicher Bauteile können infolge der Schichtdickenänderung des Klebstoffs beim Aushärten (Schwinden) neben maßlichen Veränderungen auch erhebliche Spannungen und daraus resultierende unzulässige Bauteildeformationen auftreten. Um die Schichtdickenänderung quantitativ erfassen zu können, sind insbesondere berührungslos messende Verfahren geeignet, da die Messungen während des Aushärtens des Klebstoffes, d.h. in seiner "flüssigen Phase" erfolgen müssen. Unter bestimmten noch zu erörternden Voraussetzungen bietet sich die Echtzeitholografie an, diese Meßaufgabe zu lösen.	de
dc.identifier.other	366524380	de
dc.identifier.uri	http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-61077	de
dc.identifier.uri	http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4343
dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.18419/opus-4326
dc.language.iso	de	de
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess	de
dc.subject.classification	Holographische Interferometrie , Schichtdicke	de
dc.subject.ddc	530	de
dc.title	Echtzeitholografie mit BSO-Kristall zum Messen der Schichtdickenänderung beim Aushärten von Zwei-Komponenten-Klebstoffen	de
dc.type	conferenceObject	de
ubs.fakultaet	Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik	de
ubs.institut	Institut für Technische Optik	de
ubs.opusid	6107	de
ubs.publikation.source	Waidelich, Wilhelm (Hrsg.): Laser Optoelektronik in der Technik : Vorträge des 8. Internationalen Kongresses Laser 87 Optoelektronik. Berlin : Springer, 1987. - ISBN 3-540-18132-6, S. 151-154	de
ubs.publikation.typ	Konferenzbeitrag	de

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1

Name:: tiz63.pdf
Size:: 699.1 KB
Format:: Adobe Portable Document Format

Download

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1

Name:: license.txt
Size:: 1021 B
Format:: Plain Text
Description:

Download

Collections

07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik