1. OPUS

Auflistung nach Autor Tiziani, Hans J.

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ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
1992Optische und optoelektronische Verfahren zur dimensionellen VermessungTiziani, Hans J.
1976Die optische Ühertragungsfunktion von dezentrierten optischen SystemenBeyeler, Bernhard H.; Tiziani, Hans J.
1991Optische Verfahren zur Abstands- und TopografiebestimmungTiziani, Hans J.
1970Opto-electronic pattern recognition systemTiziani, Hans J.; Beyeler, Bernhard H.; Witz, Werner
1991Phase shifting in an oblique incidence interferometerBoebel, Doris; Packroß, Bernd; Tiziani, Hans J.
1986Photothermal interferometry for nondestructive subsurface defect detectionSodnik, Zoran; Tiziani, Hans J.
1978Physical properties of specklesTiziani, Hans J.
1998Positioning of noncooperative objects using joint transform correlation combined with fringe projectionHaist, Tobias; Schönleber, Martin; Tiziani, Hans J.
1981Prospects of testing aspheric surfaces with computer-generated hologramsTiziani, Hans J.
1982Real time metrology with BSO crystalsTiziani, Hans J.
1981Real-time contour holography using BSO crystalsKüchel, Michael; Tiziani, Hans J.
1980Real-time displacement and tilt analysis by a speckle technique using Bi12SiO20-crystalsTiziani, Hans J.; Leonhardt, Klaus; Klenk, Jürgen
1982Real-time measurements in optical metrologyTiziani, Hans J.
1987Rechnerunterstützte Laser-MeßtechnikTiziani, Hans J.
1987Remote nondestructive material analysis by photothermal interferometrySodnik, Zoran; Tiziani, Hans J.
1982Removing ambiguities in surface roughness measurementLeonhardt, Klaus; Tiziani, Hans J.
1993Resolution limits of active triangulation systems by defocusingSeitz, Günther; Tiziani, Hans J.
1977A review of speckle photography and interferometryTiziani, Hans J.
1991Schnelle 3-D-Kamera mit adaptierbaren, hochauflösenden MarkierungscodesMalz, Reinhard; Tiziani, Hans J.
1990Self-induced photorefractive spatial frequency filterMöbus, Günter; Schmidt, B.; Tiziani, Hans J.
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