Browsing by Author "Kesel, Frank"

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    Automatische Synthese selbsttestbarer Moduln für hochkomplexe Schaltungen
    (1989) Kesel, Frank; Wunderlich, Hans-Joachim
    Für den Test hochkomplexer digitaler Schaltungen bieten sich Selbsttestverfahren an, die auf multifunktionalen linear rückgekoppelten Schieberegistern beruhen. Diese erzeugen Pseudozufallsmuster und komprimieren die Testantworten zu einer Signatur. Durch einen automatischen Einbau der Selbsttestausstattung kann die Korrektheit des Entwurfs gewährleistet werden. Im vorliegenden Beitrag wird ein Verfahren vorgestellt, mit welchem sich multifunktionale Registerschaltungen automatisch synthetisieren lassen, welche gleich- und ungleichverteilte Pseudozufallsmuster erzeugen und die Testantworten durch Signaturanalyse komprimieren. Sie werden als Standardzellen erzeugt und können automatisch plaziert und verdrahtet werden.
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    Parametrisierte Speicherzellen zur Unterstützung des Selbsttests mit optimierten und konventionellen Zufallsmustern
    (1989) Kesel, Frank; Wunderlich, Hans-Joachim
    Viele Selbsttestverfahren für hochintegrierte Schaltungen beruhen auf der Erzeugung von Zufallsmustem mit rückgekoppelten Schieberegistem. Oft wird jedoch für eine ausreichende Fehlererfassung eine unwirtschaftlich große Menge von Zufallsmustern benötigt, falls diese gleichverteilt erzeugt werden. Mit ungleichverteilten Zufallsmustern kann die Testlänge entscheidend reduziert werden, ein entsprechendes Selbsttestkonzept wurde als GURT (Generator of Unequiprobable Random Tests) vorgeschlagen. Im vorliegenden Beitrag werden Grundzellen zur Synthese von Registern nach dem GURT-Prinzip vorgestellt und die Probleme beim Entwurf eines entsprechenden Syntheseprogrammes diskutiert. Anhand eines Beispiels werden die Selbsttestkonzepte nach dem GURT- und nach dem BILBO-Prinzip verglichen.