Parametrisierte Speicherzellen zur Unterstützung des Selbsttests mit optimierten und konventionellen Zufallsmustern

Abstract

Viele Selbsttestverfahren für hochintegrierte Schaltungen beruhen auf der Erzeugung von Zufallsmustem mit rückgekoppelten Schieberegistem. Oft wird jedoch für eine ausreichende Fehlererfassung eine unwirtschaftlich große Menge von Zufallsmustern benötigt, falls diese gleichverteilt erzeugt werden. Mit ungleichverteilten Zufallsmustern kann die Testlänge entscheidend reduziert werden, ein entsprechendes Selbsttestkonzept wurde als GURT (Generator of Unequiprobable Random Tests) vorgeschlagen. Im vorliegenden Beitrag werden Grundzellen zur Synthese von Registern nach dem GURT-Prinzip vorgestellt und die Probleme beim Entwurf eines entsprechenden Syntheseprogrammes diskutiert. Anhand eines Beispiels werden die Selbsttestkonzepte nach dem GURT- und nach dem BILBO-Prinzip verglichen.