05 Fakultät Informatik, Elektrotechnik und Informationstechnik
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Item Open Access Fault emulation for reconfigurable scan networks(2018) Schwachhofer, DenisAt around their standardization by the IEEE the interest on Reconfigurable Scan Networks (RSNs) by research and industry sparked. The testing of RSNs also raises new challenges. To analyze and cope with these challenges researchers are required to perform fault simulation. And the industry incorporated RSNs into their designs and need to test them to which also requires fault simulation. But the runtime of it is significantly high due to the RSNs’ structure. This thesis introduces a platform for fault emulation of RSNs and analyzes its feasibility. The speedup compared to fault simulation is presented and advantages, limitations and possible optimizations are evaluated and discussed.Item Open Access Software-basierter Selbsttest eingebetteter Speicher(2015) Ebinger, FelixProzessoren werden häufig mittels softwarebasierter Selbsttests (SBST) getestet, da dieses Testverfahren mehrere Vorteile besitzt. Zunächst ist der Test zerstörungsfrei, und wird im funktionalen Betriebszustand des Prozessors durchgeführt. Es ist weder eine Veränderung des Hardwaredesigns erforderlich noch ist ein Übertesten möglich. Die Testmethode ist flexibel einsetzbar und kann sowohl beim Herstellungstest als auch im Feld genutzt werden. Speicher werden dagegen üblicherweise mittels eingebauter Selbsttests (engl. built-in self-test, BIST) getestet, da der Overhead durch die zusätzliche Testhardware nur gering ausfällt und diese Tests bei Speichern ohne Performance-Einbußen realisiert werden können. In dieser Arbeit wird die softwarebasierte Umsetzung von Speichertests untersucht um die Vorteile softwarebasierter Selbsttests auch bei Speichertests nutzen zu können. Dies stellt eine Herausforderung dar, da softwarebasiert nicht jede Operationsfolge mit frei wählbarem Zeitverhalten erzeugt werden kann. Insbesondere bei dynamischen Fehlern kann dies zu einer Verringerung der Testabdeckung führen. Hierzu wird ein Framework zur automatischen Umwandlung von Marchtestbeschreibungen in Testprogramme für den miniMIPS-Prozessor vorgestellt. Dabei steht besonders die Laufzeit des Testprogramms und die erreichte Testabdeckung im Vordergrund. Die Testabdeckung wird durch Simulation und Fehlerinjektion experimentell bestimmt. Es zeigt sich, dass die Fehlerabdeckung für die untersuchten statische und dynamische Fehlermodelle durch die vorgestellte Implementierung in Software nicht beeinträchtigt wird.Item Open Access Software-basierter Selbsttest von Peripherie-Komponenten(2015) Bäßler, JochenSoftware-basierte Selbsttest (SBST) Verfahren werden zumeist für das Testen von Mikroprozessoren eingesetzt, lassen sich jedoch auch auf Peripheriekomponenten anwenden. Der Vorteil von SBST, gegenüber Hardware-basierten Ansätzen besteht dabei im Verzicht auf spezielle Testhardware und Hochgeschwindigkeitstestgeräte und der Tatsache, dass Tests in der natürlichen Betriebsumgebung (engl. In-System) und bei normaler Betriebsfrequenz (engl. At-Speed) ablaufen. Peripheriekomponenten nehmen in vielen Systemen einen erheblichen Teil der Chipfläche ein, werden teilweise für sicherheitskritische Aufgaben eingesetzt und müssen folglich ausgiebig getestet werden. Um strukturelle SBST-Verfahren erfolgreich auf diesen Typ von Komponenten anzuwenden, müssen Maßnahmen getroffen werden um deren geringe Beobacht- und Kontrollierbarkeit zu erhöhen, da andernfalls die erzielte Fehlerabdeckung der Verfahren zu niedrig ausfällt. In dieser Arbeit werden zwei unterschiedliche Ansätze untersucht, um die strukturelle Fehlerabdeckung von SBST-Verfahren auf Kommunikationsperipheriekomponenten zu verbessern. Der erste Ansatz zielt auf eine verbesserte Kontrollierbarkeit der verwendeten Komponente ab. Dazu wird ein Loopback-basierter Mechanismus implementiert. Um darüber hinaus eine bessere Beobachtbarkeit zu erreichen wird als zweiter Ansatz der Zustand ausgewählter internen Signale dem System sichtbar gemacht. Eine beispielhafte Anwendung der vorgestellten Methode auf die I2C-Komponente eines RISC-Prozessors zeigt die Wirksamkeit der verwendeten Maßnahmen zur Verbesserung der strukturellen Fehlerabdeckung.Item Open Access Adaptierung an Zeitverhalten-Variationen in rekonfigurierbaren Hardwarestrukturen(2015) Brandhofer, SebastianDas Zeitverhalten von Komponenten in rekonfigurierbaren Hardwarestrukturen kann durch Alterungseffekte und zufällige Defekte variieren. Wenn ein System nicht an diese Abweichungen vom nominellen Zeitverhalten adaptiert werden kann, entstehen Verzögerungsfehler während des Betriebs, die zu falschen Ergebnissen oder Systemausfällen führen können. Insbesondere in sicherheitskritischen Anwendungen von rekonfigurierbaren Hardwarestrukturen kann dies zu Gefährdung von Personen führen. Diese Arbeit stellt einen Algorithmus zur Adaptierung an Zeitverhalten-Variationen in rekonfigurierbaren Hardwarestrukturen vor, der Alterung von Komponenten sowie zufällige Defekte berücksichtigt und Verzögerungsfehler durch eine dem Zeitverhalten angepasste Nutzung der rekonfigurierbaren Hardwarestrukturen vermeidet. Der entworfene Algorithmus wird mit Hilfe von verschiedenen Verzögerungsverteilungen hinsichtlich der Adaptionsfähigkeit, Speicheranforderungen und Laufzeit untersucht.Item Open Access Evaluation of backtracing based diagnosis algorithms(2011) Badreldein, MahaWith the growing size and complexity of modern circuits, more algorithms are being developed nowadays for efficient fault diagnosis. Backtracing based diagnosis algorithms are effect-cause approaches that start from the failing outputs of the circuit and try to diagnose fault locations by backtracing lines toward the circuit inputs. In this thesis, general functionality was extracted between backtracing based diagnosis algorithms and implemented as an extension to an existing diagnosis framework. Furthermore, a simple graphical user interface was developed for the extended framework. The extended framework aims at facilitating the implementation and evaluation of different backtracing based diagnosis algorithms. In order to demonstrate its powerfulness, two modern backtracing based diagnosis algorithms were implemented on top of the extended framework. A number of diagnosis experiments on benchmark circuits was carried out in order to evaluate the two implemented algorithms. The experimental tools used and the results obtained are presented.