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http://dx.doi.org/10.18419/opus-10745
Autor(en): | Nitzsche, Maximilian Zehelein, Matthias Tröster, Nathan Roth-Stielow, Jörg |
Titel: | Precise voltage measurement for power electronics with high switching frequencies |
Erscheinungsdatum: | 2018 |
Dokumentart: | Konferenzbeitrag |
Konferenz: | PCIM Europe, International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management (2018, Nürnberg) |
Erschienen in: | PCIM Europe 2018, International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management : proceedings. Berlin : VDE Verlag, 2018. ISBN 978-3-8007-4646-0, S. 1356-1361 |
URI: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-ds-107625 http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/10762 http://dx.doi.org/10.18419/opus-10745 |
ISBN: | 978-3-8007-4646-0 |
Bemerkungen: | Website der PCIM Europe: www.pcim-europe.com |
Zusammenfassung: | In this paper different approaches in precise measurement of gate voltages as well as drain-source voltages of modern SiC and GaN transistors are compared. An approach to calculate the necessary bandwidth of a voltage probe to reproduce the voltage slope is presented. Furthermore, state-of-the-art voltage probes are compared in means of bandwidth, common mode reduction and response on EMI. |
Enthalten in den Sammlungen: | 05 Fakultät Informatik, Elektrotechnik und Informationstechnik |
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