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http://dx.doi.org/10.18419/opus-4304
| Autor(en): | Tiziani, Hans J. Leonhardt, Klaus Klenk, Jürgen |
| Titel: | Real-time displacement and tilt analysis by a speckle technique using Bi12SiO20-crystals |
| Erscheinungsdatum: | 1980 |
| Dokumentart: | Zeitschriftenartikel |
| Erschienen in: | Optics communications 34 (1980), S. 327-331. URL http://dx.doi.org./10.1016/0030-4018(80)90388-0 |
| URI: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-60703 http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4321 http://dx.doi.org/10.18419/opus-4304 |
| Zusammenfassung: | Storage of speckle pattern in real time by means of Bi12SiO20-crystals will be reported. Applying the double exposure technique, deformations, displacements as well as tilts can be analysed. The novel speckle technique displays the Young-interference fringes in quasi real time. |
| Enthalten in den Sammlungen: | 07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik |
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