Verfahren zur optischen Rauheitsmessung und Mikroprofilometrie

Leonhardt, Klaus; Rippert, Karl-Heinz; Tiziani, Hans J.

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DC Element	Wert	Sprache
dc.contributor.author	Leonhardt, Klaus	de
dc.contributor.author	Rippert, Karl-Heinz	de
dc.contributor.author	Tiziani, Hans J.	de
dc.date.accessioned	2011-02-22	de
dc.date.accessioned	2016-03-31T08:16:23Z	-
dc.date.available	2011-02-22	de
dc.date.available	2016-03-31T08:16:23Z	-
dc.date.issued	1985	de
dc.identifier.other	366493299	de
dc.identifier.uri	http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-60898	de
dc.identifier.uri	http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4332	-
dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.18419/opus-4315	-
dc.description.abstract	In diesem Beitrag werden wegen der Kürze der Darstellung nur einige der bekannten Verfahren behandelt. Zwei Verfahren der Mikroprofilometrie, die im Institut für Technische Optik Stuttgart zur Zeit bearbeitet werden und ein Verfahren der integralen Rauheitsmessung, das in unserem Institut entwickelt wurde, werden ausführlicher beschrieben.	de
dc.language.iso	de	de
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess	de
dc.subject.classification	Profil <Oberfläche> , Optische Messtechnik	de
dc.subject.ddc	530	de
dc.title	Verfahren zur optischen Rauheitsmessung und Mikroprofilometrie	de
dc.type	conferenceObject	de
dc.date.updated	2014-09-11	de
ubs.fakultaet	Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik	de
ubs.institut	Institut für Technische Optik	de
ubs.opusid	6089	de
ubs.publikation.source	Rosenbruch, Klaus-Jürgen (Hrsg.): Charakterisierung und Messung von Oberflächenfehlern an optisch wirksamen Flächen : PTB-Symposium am 27. Juni 1985. Braunschweig : PTB, 1985 (PTB-Bericht, Opt. 19), S. 80-111	de
ubs.publikation.typ	Konferenzbeitrag	de
Enthalten in den Sammlungen:	07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik

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