Current state of optical testing

Tiziani, Hans J.

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DC Element	Wert	Sprache
dc.contributor.author	Tiziani, Hans J.	de
dc.date.accessioned	2011-02-22	de
dc.date.accessioned	2016-03-31T08:16:24Z	-
dc.date.available	2011-02-22	de
dc.date.available	2016-03-31T08:16:24Z	-
dc.date.issued	1987	de
dc.identifier.other	366187538	de
dc.identifier.uri	http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-60946	de
dc.identifier.uri	http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4338	-
dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.18419/opus-4321	-
dc.description.abstract	Basic interferometry and holographic interferometry are becoming useful tools for precision measurements. The use of electronic solid state detector arrays, together with small computers for extracting the information from the interferograms improve their applications. Computer analysis is becoming increasingly important. A lot of information can be extracted from the interferograms leading to higher sensitivities and accuracies.	en
dc.language.iso	en	de
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess	de
dc.subject.classification	Optische Messtechnik , Interferometrie , Holographische Interferometrie	de
dc.subject.ddc	530	de
dc.title	Current state of optical testing	en
dc.type	conferenceObject	de
dc.date.updated	2012-07-03	de
ubs.fakultaet	Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik	de
ubs.institut	Institut für Technische Optik	de
ubs.opusid	6094	de
ubs.publikation.source	Creath, Katherine (Hrsg.): Surface characterization and testing. Bellingham, Wash. : SPIE, 1987 (Proceedings / SPIE 680). - ISBN 0-89252-715-3, S. 2-9	de
ubs.publikation.typ	Konferenzbeitrag	de
Enthalten in den Sammlungen:	07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik

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