Please use this identifier to cite or link to this item: http://dx.doi.org/10.18419/opus-4326
Authors: Pfister, Berthold P.
Tiziani, Hans J.
Title: Echtzeitholografie mit BSO-Kristall zum Messen der Schichtdickenänderung beim Aushärten von Zwei-Komponenten-Klebstoffen
Issue Date: 1987
metadata.ubs.publikation.typ: Konferenzbeitrag
metadata.ubs.publikation.source: Waidelich, Wilhelm (Hrsg.): Laser Optoelektronik in der Technik : Vorträge des 8. Internationalen Kongresses Laser 87 Optoelektronik. Berlin : Springer, 1987. - ISBN 3-540-18132-6, S. 151-154
URI: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-61077
http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4343
http://dx.doi.org/10.18419/opus-4326
Abstract: Die Präzisions-Klebeverbindungen empfindlicher Bauteile können infolge der Schichtdickenänderung des Klebstoffs beim Aushärten (Schwinden) neben maßlichen Veränderungen auch erhebliche Spannungen und daraus resultierende unzulässige Bauteildeformationen auftreten. Um die Schichtdickenänderung quantitativ erfassen zu können, sind insbesondere berührungslos messende Verfahren geeignet, da die Messungen während des Aushärtens des Klebstoffes, d.h. in seiner "flüssigen Phase" erfolgen müssen. Unter bestimmten noch zu erörternden Voraussetzungen bietet sich die Echtzeitholografie an, diese Meßaufgabe zu lösen.
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