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http://dx.doi.org/10.18419/opus-4363
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DC Element | Wert | Sprache |
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dc.contributor.author | Zou, Yunlu | de |
dc.contributor.author | Diao, Hongyan | de |
dc.contributor.author | Peng, Xiang | de |
dc.contributor.author | Tiziani, Hans J. | de |
dc.date.accessioned | 2011-03-21 | de |
dc.date.accessioned | 2016-03-31T08:16:32Z | - |
dc.date.available | 2011-03-21 | de |
dc.date.available | 2016-03-31T08:16:32Z | - |
dc.date.issued | 1992 | de |
dc.identifier.other | 349257809 | de |
dc.identifier.uri | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-61699 | de |
dc.identifier.uri | http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4380 | - |
dc.identifier.uri | http://dx.doi.org/10.18419/opus-4363 | - |
dc.description.abstract | We present a new arrangement for contouring by electronic speckle pattern interferometry with four illumination beams, thereby making it unnecessary to move anything during the measurement. | en |
dc.language.iso | en | de |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | de |
dc.subject.classification | Speckle-Interferometrie , Interferometrie , Mustererkennung | de |
dc.subject.ddc | 620 | de |
dc.title | Contouring by electronic speckle pattern interferometry with quadruple-beam illumination | en |
dc.type | article | de |
ubs.fakultaet | Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik | de |
ubs.institut | Institut für Technische Optik | de |
ubs.opusid | 6169 | de |
ubs.publikation.source | Applied optics 31 (1992), S. 6599-6602. URL http://dx.doi.org./10.1364/AO.31.006599 | de |
ubs.publikation.typ | Zeitschriftenartikel | de |
Enthalten in den Sammlungen: | 07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik |
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