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dc.contributor.authorTiziani, Hans J.de
dc.date.accessioned2011-03-21de
dc.date.accessioned2016-03-31T08:16:34Z-
dc.date.available2011-03-21de
dc.date.available2016-03-31T08:16:34Z-
dc.date.issued1992de
dc.identifier.other366606700de
dc.identifier.urihttp://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-61559de
dc.identifier.urihttp://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4396-
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.18419/opus-4379-
dc.description.abstractHeterodyn interferometry is a powerful tool for high precision distance and vibration analysis. Two wavelength heterodyne techniques become very interesting for absolute distance measurement. It was shown, that a synthetic wavelength can be generated by two shorter ones. This leads also to the techniques to measure optically rougher surfaces because the optical path difference is to be compared with the synthetic wavelength. Further work will be reported.en
dc.language.isoende
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessde
dc.subject.classificationHeterodyninterferometrie , Optische Messtechnikde
dc.subject.ddc620de
dc.titleHeterodyne interferometry using two wavelengths for dimensional measurementsen
dc.typeconferenceObjectde
dc.date.updated2012-07-03de
ubs.fakultaetFakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnikde
ubs.institutInstitut für Technische Optikde
ubs.opusid6155de
ubs.publikation.sourcePryputniewicz, Ryszard J. (Hrsg.): Laser interferometry IV : computer aided interferometry. 22-24 July 1991, San Diego, California. Bellingham, Wash. : SPIE, 1992 (Proceedings / SPIE 1553). - ISBN 0-8194-0681-3, S. 490-501de
ubs.publikation.typKonferenzbeitragde
Enthalten in den Sammlungen:07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik

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