Bitte benutzen Sie diese Kennung, um auf die Ressource zu verweisen:
http://dx.doi.org/10.18419/opus-4382
Langanzeige der Metadaten
DC Element | Wert | Sprache |
---|---|---|
dc.contributor.author | Fischer, Edgar | de |
dc.contributor.author | Dalhoff, Ernst | de |
dc.contributor.author | Ittner, Thomas | de |
dc.contributor.author | Sodnik, Zoran | de |
dc.contributor.author | Tiziani, Hans J. | de |
dc.date.accessioned | 2011-03-21 | de |
dc.date.accessioned | 2016-03-31T08:16:35Z | - |
dc.date.available | 2011-03-21 | de |
dc.date.available | 2016-03-31T08:16:35Z | - |
dc.date.issued | 1992 | de |
dc.identifier.other | 366646982 | de |
dc.identifier.uri | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-61615 | de |
dc.identifier.uri | http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4399 | - |
dc.identifier.uri | http://dx.doi.org/10.18419/opus-4382 | - |
dc.description.abstract | In diesem Aufsatz wurde ein Meßsystem vorgestellt, welches sich aus der Kombination der Zweiwellenlängen-Interferometrie mit dem intensitätsunabhängigen Heterodyn-Verfahren zusammensetzt. Die resultierende Doppelheterodyn-Interferometrie vereinigt die Vorteile der beiden Verfahren. Ein großer Eindeutigkeitsbereich entsprechend der effektiven Wellenlänge A entsteht, darüberhinaus sind optisch rauhe Oberflächen als Meßobjekte zulässig; reduzierte Empfindlichkeit gegenüber Vibrationen und Umwelteinflüssen, hohe Auflösung infolge elektronischer Phasenbestimmung sowie hochgenaue Abstandsmessung in Echtzeit sind weitere Vorteile. Das Doppelheterodyn-Interferometer wird in Zukunft zu einem effektiven und dynamischen Meßinstrument zur hochgenauen Entfernungsmessung im Mikrometerbereich bis hin zu Meßdistanzen von 100 m entwickelt werden, für das sich schon jetzt zahlreiche Einsatzmöglichkeiten abzeichnen. | de |
dc.language.iso | de | de |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | de |
dc.subject.classification | Heterodyninterferometrie , Laser , Optische Messtechnik | de |
dc.subject.ddc | 620 | de |
dc.title | Doppelheterodyn-Interferometrie für hochgenaue Vermessung im Nahbereich | de |
dc.type | conferenceObject | de |
ubs.fakultaet | Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik | de |
ubs.institut | Institut für Technische Optik | de |
ubs.opusid | 6161 | de |
ubs.publikation.source | Waidelich, Wilhelm (Hrsg.): Laser in der Technik : Vorträge des 10. Internationalen Kongresses Laser 91. Berlin ; Heidelberg : Springer, 1992. - ISBN 3-540-55247-2, S. 134-138 | de |
ubs.publikation.typ | Konferenzbeitrag | de |
Enthalten in den Sammlungen: | 07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik |
Dateien zu dieser Ressource:
Datei | Beschreibung | Größe | Format | |
---|---|---|---|---|
tiz110.pdf | 1,13 MB | Adobe PDF | Öffnen/Anzeigen |
Alle Ressourcen in diesem Repositorium sind urheberrechtlich geschützt.