Ultrasonic spectroscopy of the acceptor ground state in cubic semiconductors

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DC Element	Wert	Sprache
dc.contributor.author	Lassmann, Kurt	de
dc.contributor.author	Zeile, Heinrich	de
dc.date.accessioned	2009-10-07	de
dc.date.accessioned	2016-03-31T08:35:49Z	-
dc.date.available	2009-10-07	de
dc.date.available	2016-03-31T08:35:49Z	-
dc.date.issued	1980	de
dc.identifier.other	31789773X	de
dc.identifier.uri	http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-46901	de
dc.identifier.uri	http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4893	-
dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.18419/opus-4876	-
dc.description.abstract	In the following we will discuss ultrasonic measurements on p-type semiconductors reflecting spontaneous and defect sensitive modifications of the acceptor ground state.	en
dc.language.iso	en	de
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess	de
dc.subject.classification	Ultraschallspektroskopie , Halbleiter , Akzeptor <Halbleiterphysik>	de
dc.subject.ddc	530	de
dc.title	Ultrasonic spectroscopy of the acceptor ground state in cubic semiconductors	en
dc.type	conferenceObject	de
dc.date.updated	2014-10-27	de
ubs.fakultaet	Fakultät Mathematik und Physik	de
ubs.institut	1. Physikalisches Institut	de
ubs.opusid	4690	de
ubs.publikation.source	Maris, Humphrey J. (Hrsg.): Phonon scattering in condensed matter : proceedings of the third international conference. New York : Plenum Press, 1980. - ISBN 0-306-40355-2, S. 369-376	de
ubs.publikation.typ	Konferenzbeitrag	de
Enthalten in den Sammlungen:	08 Fakultät Mathematik und Physik

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