Reflection of high frequency phonons at free silicon surfaces

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DC Element	Wert	Sprache
dc.contributor.author	Marx, Dieter	de
dc.contributor.author	Buck, Jochen	de
dc.contributor.author	Lassmann, Kurt	de
dc.contributor.author	Eisenmenger, Wolfgang	de
dc.date.accessioned	2009-10-07	de
dc.date.accessioned	2016-03-31T08:35:51Z	-
dc.date.available	2009-10-07	de
dc.date.available	2016-03-31T08:35:51Z	-
dc.date.issued	1978	de
dc.identifier.other	317914251	de
dc.identifier.uri	http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-46898	de
dc.identifier.uri	http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4904	-
dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.18419/opus-4887	-
dc.description.abstract	In reflection experiments at free silicon [100]-surfaces we could distinguish between specularly and diffusely reflected transverse phonons propagated along <100>-directions. With increasing phonon frequency the number of diffusely scattered phonons increase relative to that of specularly reflected phonons.	en
dc.language.iso	en	de
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess	de
dc.subject.classification	Phonon , Silicium	de
dc.subject.ddc	530	de
dc.title	Reflection of high frequency phonons at free silicon surfaces	en
dc.type	article	de
dc.date.updated	2014-09-11	de
ubs.fakultaet	Fakultät Mathematik und Physik	de
ubs.institut	1. Physikalisches Institut	de
ubs.opusid	4689	de
ubs.publikation.source	Journal de physique 39 (1978), C6, S. 1015-1016	de
ubs.publikation.typ	Zeitschriftenartikel	de
Enthalten in den Sammlungen:	08 Fakultät Mathematik und Physik

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