Please use this identifier to cite or link to this item: http://dx.doi.org/10.18419/opus-7501
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorDiao, Hongyande
dc.contributor.authorZou, Yunlude
dc.contributor.authorPeng, Xiangde
dc.contributor.authorTiziani, Hans J.de
dc.contributor.authorChen, L.de
dc.date.accessioned2011-03-17de
dc.date.accessioned2016-03-31T11:43:22Z-
dc.date.available2011-03-17de
dc.date.available2016-03-31T11:43:22Z-
dc.date.issued1992de
dc.identifier.other349035407de
dc.identifier.urihttp://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-61602de
dc.identifier.urihttp://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7518-
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.18419/opus-7501-
dc.description.abstractEs wird eine neue Konturing-Methode mit einer elektronischen Zweiwellenlängen-Speckle-Interferometrie (TWESPI) vorgeschlagen, bei der zwei Beleuchtungsstrahlen verwendet werden. Die optisch rauhe Oberfläche wird bei einer synthetischen längeren equivalenten Wellenlänge vermessen, so daß durch die Änderung der Wellenlängen eine variable Meßempfindlichkeit erhalten werden kann. Dadurch erweitert diese Technik den Meßbereich der Einwellen-Speckle-Interferometrie und erlaubt die Messung von Konturen steiler Profile als bisher mit der Einwellenlängen-Methode möglich war.de
dc.description.abstractInstead of searching a direction vector of contour planes which is completely identical to the direction of the optical axis of a viewing system, we introduce a kind of the method of calibrating measurement values by computer so that the correct shape of the test object can be obtained when the direction vector of the contour planes deviates from the optical axis of the viewing system. The calibrating formula is derived and experimentally verified. According to the formula, the optimization of ESPI optical system is discussed. Several examples are analyzed. The theoretical and calibrated results show good agreement.en
dc.language.isoende
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessde
dc.subject.classificationSpeckle-Interferometrie , Laserde
dc.subject.ddc530de
dc.titleCalibration of the inclined contour planes formed on ESPI and optimization of ESPI optical system for contouringen
dc.title.alternativeEichung von geneigten Konturebenen von ESPI und optimale ESPI-Systeme für das Konturingen
dc.typearticlede
ubs.fakultaetFakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtungde
ubs.fakultaetFakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnikde
ubs.institutSonstige Einrichtungde
ubs.institutInstitut für Technische Optikde
ubs.opusid6160de
ubs.publikation.sourceOptik 91 (1992), S. 71-75de
ubs.publikation.typZeitschriftenartikelde
Appears in Collections:15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
tiz109.pdf1,15 MBAdobe PDFView/Open


Items in OPUS are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.