Please use this identifier to cite or link to this item: http://dx.doi.org/10.18419/opus-7919
Authors: Schulz, Michael H.
Wunderlich, Hans-Joachim
Title: Methoden der Testvorbereitung zum IC-Entwurf
Issue Date: 1990
metadata.ubs.publikation.typ: Zeitschriftenartikel
metadata.ubs.publikation.source: Mikro-Elektronik 4 (1990), S. 112-115
URI: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73187
http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7936
http://dx.doi.org/10.18419/opus-7919
Abstract: Neben dem eigentlichen Testen umfaßt eine Teststrategie die Auswahl eines geeigneten Fehlermodells, ein Verfahren für den prüfgerechten strukturierten Entwurf sowie die Testsatzerzeugung. Ziel dieser Prüfvorbereitung ist die Steigerung der Produktqualität sowie die Senkung der Testkosten bei integrierten Schaltungen.
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