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http://dx.doi.org/10.18419/opus-7919
| Autor(en): | Schulz, Michael H. Wunderlich, Hans-Joachim |
| Titel: | Methoden der Testvorbereitung zum IC-Entwurf |
| Erscheinungsdatum: | 1990 |
| Dokumentart: | Zeitschriftenartikel |
| Erschienen in: | Mikro-Elektronik 4 (1990), S. 112-115 |
| URI: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73187 http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7936 http://dx.doi.org/10.18419/opus-7919 |
| Zusammenfassung: | Neben dem eigentlichen Testen umfaßt eine Teststrategie die Auswahl eines geeigneten Fehlermodells, ein Verfahren für den prüfgerechten strukturierten Entwurf sowie die Testsatzerzeugung. Ziel dieser Prüfvorbereitung ist die Steigerung der Produktqualität sowie die Senkung der Testkosten bei integrierten Schaltungen. |
| Enthalten in den Sammlungen: | 15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung |
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