Modeling and investigating total ionizing dose impact on FeFET

dc.contributor.author	Sayed, Munazza
dc.contributor.author	Ni, Kai
dc.contributor.author	Amrouch, Hussam
dc.date.accessioned	2024-07-03T12:18:13Z
dc.date.available	2024-07-03T12:18:13Z
dc.date.issued	2023	de
dc.identifier.issn	2329-9231
dc.identifier.other	1894851048
dc.identifier.uri	http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-ds-146047	de
dc.identifier.uri	http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/14604
dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.18419/opus-14585
dc.language.iso	en	de
dc.relation.uri	doi:10.1109/JXCDC.2023.3325706	de
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess	de
dc.rights.uri	https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/	de
dc.subject.ddc	621.3	de
dc.title	Modeling and investigating total ionizing dose impact on FeFET	en
dc.type	article	de
ubs.fakultaet	Informatik, Elektrotechnik und Informationstechnik	de
ubs.fakultaet	Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung	de
ubs.institut	Institut für Technische Informatik	de
ubs.institut	Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung	de
ubs.publikation.seiten	143-150	de
ubs.publikation.source	IEEE journal on exploratory solid-state computational devices and circuits 9 (2023), S. 143-150	de
ubs.publikation.typ	Zeitschriftenartikel	de

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