Please use this identifier to cite or link to this item: http://dx.doi.org/10.18419/opus-4087
Authors: Rieber, Jochen M.
Allgöwer, Frank
Stemmer, Andreas
Title: Schneller sehen durch Regelungstechnik - Moderne Bildgebung in der Nanotechnologie
Issue Date: 2004
metadata.ubs.publikation.typ: Zeitschriftenartikel
metadata.ubs.publikation.source: Wechselwirkungen, Jahrbuch aus Lehre und Forschung der Universität Stuttgart (2004), S. 101-109
URI: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-29264
http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4104
http://dx.doi.org/10.18419/opus-4087
Abstract: Die Nanotechnologie, also die Wissenschaft von Untersuchungen und Manipulationen im Nanometermaßstab, wird als eine der Schlüsseltechnologien des 21. Jahrhunderts angesehen. Wichtige Komponenten dieses aktuellen Forschungszweiges sind das Rastertunnelmikroskop und das Rasterkraftmikroskop, die den Blick in die Nanowelt erlauben. Dieser Artikel gibt einen einführenden Einblick in die Bildgebung der Nanowelt und versucht, den Beitrag von Systemtheorie und Regelungstechnik für die Nanotechnologie anhand der Regelung von Rasterkraftmikroskopen allgemeinverständlich zu beschreiben.
Appears in Collections:07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik

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