Please use this identifier to cite or link to this item: http://dx.doi.org/10.18419/opus-4315
Authors: Leonhardt, Klaus
Rippert, Karl-Heinz
Tiziani, Hans J.
Title: Verfahren zur optischen Rauheitsmessung und Mikroprofilometrie
Issue Date: 1985
metadata.ubs.publikation.typ: Konferenzbeitrag
metadata.ubs.publikation.source: Rosenbruch, Klaus-Jürgen (Hrsg.): Charakterisierung und Messung von Oberflächenfehlern an optisch wirksamen Flächen : PTB-Symposium am 27. Juni 1985. Braunschweig : PTB, 1985 (PTB-Bericht, Opt. 19), S. 80-111
URI: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-60898
http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4332
http://dx.doi.org/10.18419/opus-4315
Abstract: In diesem Beitrag werden wegen der Kürze der Darstellung nur einige der bekannten Verfahren behandelt. Zwei Verfahren der Mikroprofilometrie, die im Institut für Technische Optik Stuttgart zur Zeit bearbeitet werden und ein Verfahren der integralen Rauheitsmessung, das in unserem Institut entwickelt wurde, werden ausführlicher beschrieben.
Appears in Collections:07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik

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