Please use this identifier to cite or link to this item: http://dx.doi.org/10.18419/opus-4382
Authors: Fischer, Edgar
Dalhoff, Ernst
Ittner, Thomas
Sodnik, Zoran
Tiziani, Hans J.
Title: Doppelheterodyn-Interferometrie für hochgenaue Vermessung im Nahbereich
Issue Date: 1992
metadata.ubs.publikation.typ: Konferenzbeitrag
metadata.ubs.publikation.source: Waidelich, Wilhelm (Hrsg.): Laser in der Technik : Vorträge des 10. Internationalen Kongresses Laser 91. Berlin ; Heidelberg : Springer, 1992. - ISBN 3-540-55247-2, S. 134-138
URI: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-61615
http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4399
http://dx.doi.org/10.18419/opus-4382
Abstract: In diesem Aufsatz wurde ein Meßsystem vorgestellt, welches sich aus der Kombination der Zweiwellenlängen-Interferometrie mit dem intensitätsunabhängigen Heterodyn-Verfahren zusammensetzt. Die resultierende Doppelheterodyn-Interferometrie vereinigt die Vorteile der beiden Verfahren. Ein großer Eindeutigkeitsbereich entsprechend der effektiven Wellenlänge A entsteht, darüberhinaus sind optisch rauhe Oberflächen als Meßobjekte zulässig; reduzierte Empfindlichkeit gegenüber Vibrationen und Umwelteinflüssen, hohe Auflösung infolge elektronischer Phasenbestimmung sowie hochgenaue Abstandsmessung in Echtzeit sind weitere Vorteile. Das Doppelheterodyn-Interferometer wird in Zukunft zu einem effektiven und dynamischen Meßinstrument zur hochgenauen Entfernungsmessung im Mikrometerbereich bis hin zu Meßdistanzen von 100 m entwickelt werden, für das sich schon jetzt zahlreiche Einsatzmöglichkeiten abzeichnen.
Appears in Collections:07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik

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