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dc.contributor.authorKesel, Frankde
dc.contributor.authorWunderlich, Hans-Joachimde
dc.date.accessioned2012-04-27de
dc.date.accessioned2016-03-31T11:44:40Z-
dc.date.available2012-04-27de
dc.date.available2016-03-31T11:44:40Z-
dc.date.issued1989de
dc.identifier.other370124693de
dc.identifier.urihttp://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73336de
dc.identifier.urihttp://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7950-
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.18419/opus-7933-
dc.description.abstractFür den Test hochkomplexer digitaler Schaltungen bieten sich Selbsttestverfahren an, die auf multifunktionalen linear rückgekoppelten Schieberegistern beruhen. Diese erzeugen Pseudozufallsmuster und komprimieren die Testantworten zu einer Signatur. Durch einen automatischen Einbau der Selbsttestausstattung kann die Korrektheit des Entwurfs gewährleistet werden. Im vorliegenden Beitrag wird ein Verfahren vorgestellt, mit welchem sich multifunktionale Registerschaltungen automatisch synthetisieren lassen, welche gleich- und ungleichverteilte Pseudozufallsmuster erzeugen und die Testantworten durch Signaturanalyse komprimieren. Sie werden als Standardzellen erzeugt und können automatisch plaziert und verdrahtet werden.de
dc.language.isodede
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessde
dc.subject.classificationSelbsttest , Signaturanalyse , Fehlererkennungde
dc.subject.ddc621.3de
dc.titleAutomatische Synthese selbsttestbarer Moduln für hochkomplexe Schaltungende
dc.typeconferenceObjectde
dc.date.updated2012-04-27de
ubs.fakultaetFakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtungde
ubs.institutSonstige Einrichtungde
ubs.opusid7333de
ubs.publikation.sourceMikroelektronik für die Informationstechnik 1989 : vom 3. bis 5. Oktober 1989 in Stuttgart. Berlin : VDE-Verl., 1989 (ITG-Fachbericht 110), S. 63-68de
ubs.publikation.typKonferenzbeitragde
Appears in Collections:15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung

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