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Erscheinungsdatum
Titel
Autor(en)
1980
Real-time displacement and tilt analysis by a speckle technique using Bi12SiO20-crystals
Tiziani, Hans J.
;
Leonhardt, Klaus
;
Klenk, Jürgen
1986
Objektvermessung mit bildanalysegestützten 3D-Meßverfahren : allgemeine Angaben zum Teilprojekt C6
Tiziani, Hans J.
1988
Automatisierung der optischen Qualitätsprüfung
Tiziani, Hans J.
1989
0ptische Methoden der 3-D-Meßtechnik und Bildverarbeitung
Tiziani, Hans J.
1988
Anwendung der synthetischen Holografie in der Meßtechnik
Tiziani, Hans J.
1989
Mikro-Profilometrie zur Bestimmung der Topographie und Rauheit technischer Oberflächen mittels Heterodyn-Laserinterferometrie
Leonhardt, Klaus
;
Rippert, Karl-Heinz
;
Tiziani, Hans J.
1983
Holographic interferometry and speckle metrology : a review of the present state
Tiziani, Hans J.
1983
Applications of interferometry for testing macro/microgeometry of optical surfaces
Tiziani, Hans J.
1984
Application of interferometry and holography for precision measurements
Tiziani, Hans J.
1986
Optical methods in engineering measurements
Tiziani, Hans J.
Facetten
Autor
9
Leonhardt, Klaus
4
Lei, Fang
4
Rippert, Karl-Heinz
3
Dörband, Bernd
3
Höller, Frank S.
3
Klenk, Jürgen
3
Litschel, Reinhold
3
Seitz, Günther
3
Sodnik, Zoran
2
Küchel, Michael
.
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Dokumentart
31
Zeitschriftenartikel
25
Konferenzbeitrag
Erscheinungsdatum
7
1989
9
1988
10
1987
8
1986
2
1985
4
1984
7
1983
3
1982
4
1981
2
1980
.
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