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Erscheinungsdatum
Titel
Autor(en)
1980
Real-time displacement and tilt analysis by a speckle technique using Bi12SiO20-crystals
Tiziani, Hans J.
;
Leonhardt, Klaus
;
Klenk, Jürgen
1986
Objektvermessung mit bildanalysegestützten 3D-Meßverfahren : allgemeine Angaben zum Teilprojekt C6
Tiziani, Hans J.
1991
Optische Verfahren zur Abstands- und Topografiebestimmung
Tiziani, Hans J.
1988
Automatisierung der optischen Qualitätsprüfung
Tiziani, Hans J.
1993
Atmospheric influence on image quality of airborne photographs
Lei, Fang
;
Tiziani, Hans J.
1989
0ptische Methoden der 3-D-Meßtechnik und Bildverarbeitung
Tiziani, Hans J.
1988
Anwendung der synthetischen Holografie in der Meßtechnik
Tiziani, Hans J.
1989
Mikro-Profilometrie zur Bestimmung der Topographie und Rauheit technischer Oberflächen mittels Heterodyn-Laserinterferometrie
Leonhardt, Klaus
;
Rippert, Karl-Heinz
;
Tiziani, Hans J.
1992
High precision laser supported close range distance measurements
Tiziani, Hans J.
1992
Contouring using two-wavelength electronic speckle pattern interferometry employing dual-beam illuminations
Diao, Hongyan
;
Peng, Xiang
;
Zou, Yunlu
;
Tiziani, Hans J.
;
Chen, L.
Facetten
Autor
12
Leonhardt, Klaus
11
Zou, Yunlu
10
Fischer, Edgar
9
Sodnik, Zoran
8
Diao, Hongyan
8
Peng, Xiang
7
Pedrini, Giancarlo
6
Dalhoff, Ernst
6
Ittner, Thomas
6
Lei, Fang
.
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Dokumentart
78
Zeitschriftenartikel
56
Konferenzbeitrag
7
Buchbeitrag
3
Preprint
Erscheinungsdatum
1
2000 - 2002
66
1990 - 1999
56
1980 - 1989
19
1970 - 1979
2
1966 - 1969