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Erscheinungsdatum
Titel
Autor(en)
1992
Erfassung und Modellierung komplexer Funktionsfehler in Mikroelektronik-Bauelementen
Stern, Olaf
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1992
Optimized synthesis techniques for testable sequential circuits
Eschermann, Bernhard
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1990
Multiple distributions for biased random test patterns
Wunderlich, Hans-Joachim
1994
Simulation results of an efficient defect analysis procedure
Stern, Olaf
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1990
An analytical approach to the partial scan problem
Kunzmann, Arno
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1994
An efficient procedure for the synthesis of fast self-testable controller structures
Hellebrand, Sybille
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1990
Methoden der Testvorbereitung zum IC-Entwurf
Schulz, Michael H.
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1992
Efficient test set evaluation
Wunderlich, Hans-Joachim
;
Warnecke, Maren
1988
Integrated tools for automatic design for testability
Schmid, Detlef
;
Wunderlich, Hans-Joachim
;
Feldbusch, Fridtjof
;
Hellebrand, Sybille
;
Holzinger, Jürgen
;
Kunzmann, Arno
1989
The pseudo-exhaustive test of sequential circuits
Wunderlich, Hans-Joachim
;
Hellebrand, Sybille
Facetten
Autor
9
Hellebrand, Sybille
7
Ströle, Albrecht P.
6
Eschermann, Bernhard
4
Kunzmann, Arno
3
Haberl, Oliver F.
3
Schulz, Michael H.
2
Kesel, Frank
2
Rosenstiel, Wolfgang
2
Schmid, Detlef
2
Stern, Olaf
.
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Dokumentart
38
Konferenzbeitrag
9
Zeitschriftenartikel
1
Buch
Erscheinungsdatum
5
1994
5
1992
7
1991
10
1990
6
1989
6
1988
4
1987
2
1986
2
1985
1
1984
.
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