1. OPUS

Auflistung nach Institut Institut für Technische Optik

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ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
1983Abbildungsqualität photogrammetrischer Objektive unter Berücksichtigung von UmwelteinflüssenTiziani, Hans J.
1988Anwendung der synthetischen Holografie in der MeßtechnikTiziani, Hans J.
1984Application of interferometry and holography for precision measurementsTiziani, Hans J.
1983Applications of interferometry for testing macro/microgeometry of optical surfacesTiziani, Hans J.
1993Atmospheric influence on image quality of airborne photographsLei, Fang; Tiziani, Hans J.
1984Auslegung von Kompensationssystemen zur interferometrischen Prüfung asphärischer FlächenDörband, Bernd; Tiziani, Hans J.
1987Automated optical testingTiziani, Hans J.
1988Automatisierung der optischen QualitätsprüfungTiziani, Hans J.
2016Autonomes Fahren: Eine kritische Beurteilung der technischen RealisierbarkeitHaist, Tobias
1983Beitrag zur Verwendung von Zernike-Polynomen bei der automatischen InterferenzstreifenauswertungKüchel, Michael; Schmieder, Thomas; Tiziani, Hans J.
1983Berührungslose optische EchtzeitmesstechnikTiziani, Hans J.
1993Beurteilung der Wellenfront von CO2-Lasern mittels phase retrivalHembd, Christian; Tiziani, Hans J.
2015Ein bildgebendes Quantenkaskadenlaser-Spektrometer zur intraoperativen Gewebedifferenzierung in der chirurgischen OnkologieGeiger, Florian Benedikt
2009Black box : an implementation using lasers, smoke and fluorescenceHaist, Tobias; Knoll, Ralf; Lorenz, Andreas
1992Calibration of the inclined contour planes formed on ESPI and optimization of ESPI optical system for contouringDiao, Hongyan; Zou, Yunlu; Peng, Xiang; Tiziani, Hans J.; Chen, L.
1993Collimating laser diodes with hybrid opticsHaupt, Christoph; Jäger, Ernst; Rothe, Andreas; Daffner, Michael; Tiziani, Hans J.
1994A combined distance and surface profile measurement system for industrial applications : a european projectDocchio, Franco; Perini, Umberto; Tiziani, Hans J.
1988A comparison of methods to measure the modulation transfer function of aerial survey lens systems from the image structuresLei, Fang; Tiziani, Hans J.
1992Computer synchronized 3D-triangulation sensor for robot visionWieland, Paul; Tiziani, Hans J.
1994Contouring by electronic speckle pattern interferometry employing divergent dual beam illuminationZou, Yunlu; Pedrini, Giancarlo; Tiziani, Hans J.
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