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Erscheinungsdatum
Titel
Autor(en)
1988
Untersuchung der Störanfälligkeit von Meßverfahren zur Bestimmung der MTF aus der Kantenbildanalyse
Lei, Fang
;
Tiziani, Hans J.
1985
Verfahren zur optischen Rauheitsmessung und Mikroprofilometrie
Leonhardt, Klaus
;
Rippert, Karl-Heinz
;
Tiziani, Hans J.
1983
Applications of interferometry for testing macro/microgeometry of optical surfaces
Tiziani, Hans J.
1987
Speckleverfahren zur absoluten Abstandsmessung
Hege, Günter
;
Tiziani, Hans J.
1986
Photothermal interferometry for nondestructive subsurface defect detection
Sodnik, Zoran
;
Tiziani, Hans J.
1987
Heterodyn-Speckle-Interferometrie zur Schwingungsmessung
Jahn, Gerald
;
Tiziani, Hans J.
1988
Nondestructive evaluation of solids by photothermal interferometry on nonreflective surfaces
Sodnik, Zoran
;
Tiziani, Hans J.
1983
Abbildungsqualität photogrammetrischer Objektive unter Berücksichtigung von Umwelteinflüssen
Tiziani, Hans J.
1983
Temperature induced deformations in BSO crystals due to photoconductivity
Leonhardt, Klaus
;
Tiziani, Hans J.
1982
Real time metrology with BSO crystals
Tiziani, Hans J.
Facetten
Autor
9
Leonhardt, Klaus
4
Lei, Fang
4
Rippert, Karl-Heinz
3
Dörband, Bernd
3
Höller, Frank S.
3
Klenk, Jürgen
3
Litschel, Reinhold
3
Seitz, Günther
3
Sodnik, Zoran
2
Küchel, Michael
.
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Dokumentart
31
Zeitschriftenartikel
25
Konferenzbeitrag
Erscheinungsdatum
7
1989
9
1988
10
1987
8
1986
2
1985
4
1984
7
1983
3
1982
4
1981
2
1980
.
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