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Erscheinungsdatum
Titel
Autor(en)
1989
Methoden der Testvorbereitung
Wunderlich, Hans-Joachim
;
Schulz, Michael H.
1987
Self test using unequiprobable random patterns
Wunderlich, Hans-Joachim
1994
Simulation results of an efficient defect analysis procedure
Stern, Olaf
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1994
Configuring flip-flops to BIST registers
Ströle, Albrecht P.
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1991
Signature analysis and test scheduling for self-testable circuits
Ströle, Albrecht P.
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1989
Parametrisierte Speicherzellen zur Unterstützung des Selbsttests mit optimierten und konventionellen Zufallsmustern
Kesel, Frank
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1987
The random pattern testability of programmable logic arrays
Wunderlich, Hans-Joachim
1989
The pseudo-exhaustive test of sequential circuits
Wunderlich, Hans-Joachim
;
Hellebrand, Sybille
1988
Weighted random patterns with multiple distributions
Wunderlich, Hans-Joachim
1990
A synthesis approach to reduce scan design overhead
Eschermann, Bernhard
;
Wunderlich, Hans-Joachim
Facetten
Autor
8
Hellebrand, Sybille
6
Ströle, Albrecht P.
5
Eschermann, Bernhard
3
Haberl, Oliver F.
3
Kunzmann, Arno
2
Kesel, Frank
2
Rosenstiel, Wolfgang
2
Schmid, Detlef
2
Stern, Olaf
1
Camposano, Raúl
.
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Erscheinungsdatum
5
1994
2
1992
6
1991
7
1990
6
1989
5
1988
3
1987
2
1986
2
1985