Auflistung nach Autor Tiziani, Hans J.

Gehe zu: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
oder geben Sie die Anfangszeichen ein:  
Anzeige der Treffer 4 bis 23 von 144 < zurück   nächste
ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
1983Abbildungsqualität photogrammetrischer Objektive unter Berücksichtigung von UmwelteinflüssenTiziani, Hans J.
1972Analysis of mechanical oscillations by specklingTiziani, Hans J.
1969Anwendung der optischen FiltriertechnikTiziani, Hans J.; Beyeler, Bernhard H.; Witz, Werner
1988Anwendung der synthetischen Holografie in der MeßtechnikTiziani, Hans J.
1971Anwendung des Schwärzungsreliefs in opto-elektronischem Formerkennungs-SystemTiziani, Hans J.; Witz, Werner
1984Application of interferometry and holography for precision measurementsTiziani, Hans J.
1971Application of speckling for in-plane vibration analysisTiziani, Hans J.
1983Applications of interferometry for testing macro/microgeometry of optical surfacesTiziani, Hans J.
1993Atmospheric influence on image quality of airborne photographsLei, Fang; Tiziani, Hans J.
1984Auslegung von Kompensationssystemen zur interferometrischen Prüfung asphärischer FlächenDörband, Bernd; Tiziani, Hans J.
1987Automated optical testingTiziani, Hans J.
1988Automatisierung der optischen QualitätsprüfungTiziani, Hans J.
1983Beitrag zur Verwendung von Zernike-Polynomen bei der automatischen InterferenzstreifenauswertungKüchel, Michael; Schmieder, Thomas; Tiziani, Hans J.
1983Berührungslose optische EchtzeitmesstechnikTiziani, Hans J.
1975Beurteilung der Bildqualität mit Hilfe der optischen ÜbertragungsfunktionTiziani, Hans J.
1977Beurteilung der Bildqualität von LuftbildkammernTiziani, Hans J.
1993Beurteilung der Wellenfront von CO2-Lasern mittels phase retrivalHembd, Christian; Tiziani, Hans J.
1992Calibration of the inclined contour planes formed on ESPI and optimization of ESPI optical system for contouringDiao, Hongyan; Zou, Yunlu; Peng, Xiang; Tiziani, Hans J.; Chen, L.
1993Collimating laser diodes with hybrid opticsHaupt, Christoph; Jäger, Ernst; Rothe, Andreas; Daffner, Michael; Tiziani, Hans J.
1994A combined distance and surface profile measurement system for industrial applications : a european projectDocchio, Franco; Perini, Umberto; Tiziani, Hans J.