1. OPUS

Auflistung nach Institut Institut für Technische Optik

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ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
1994Oblique incidence and observation electronic speckle-pattern interferometryJoenathan, Charles; Franze, Bernhard; Tiziani, Hans J.
1984On the application of synthetic holograms for testing aspheric surfacesTiziani, Hans J.; Dörband, Bernd
1992On the measurement of image disturbance in aerial photographyTiziani, Hans J.
2014Opposed-view dark-field digital holographic microscopyFaridian, Ahmad; Pedrini, Giancarlo; Osten, Wolfgang
1989Optical 3-D-measurement techniques : a surveyTiziani, Hans J.
1998Optical detection of random features for high security applicationsHaist, Tobias; Tiziani, Hans J.
1989Optical methods for precision measurementsTiziani, Hans J.
1993Optical methods for surface measurements : state of the artTiziani, Hans J.
1986Optical methods in engineering measurementsTiziani, Hans J.
1989Optical methods of measuring rough surfacesLeonhardt, Klaus; Rippert, Karl-Heinz; Tiziani, Hans J.
1993Optical techniques for shape measurementsTiziani, Hans J.
2009Optimierung von Flüssigkristall-Lichtmodulatoren in aktiven optischen SystemenKohler, Christian
1993Optische Interferometrie in der MeßtechnikTiziani, Hans J.
2005Optische Messtechnik an den Grenzen zwischen Makro und NanoOsten, Wolfgang; Kerwien, Norbert
1987Optische Mikroprofilometrie und RauheitsmessungLeonhardt, Klaus; Rippert, Karl-Heinz; Tiziani, Hans J.
2007Optische Phänomene in Natur und AlltagHaist, Tobias
2018Optische Phänomene in Natur und AlltagHaist, Tobias
2009Optische Phänomene in Natur und AlltagHaist, Tobias
1992Optische und optoelektronische Verfahren zur dimensionellen VermessungTiziani, Hans J.
1991Optische Verfahren zur Abstands- und TopografiebestimmungTiziani, Hans J.
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