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1980Real-time displacement and tilt analysis by a speckle technique using Bi12SiO20-crystalsTiziani, Hans J.; Leonhardt, Klaus; Klenk, Jürgen
1986Objektvermessung mit bildanalysegestützten 3D-Meßverfahren : allgemeine Angaben zum Teilprojekt C6Tiziani, Hans J.
1991Optische Verfahren zur Abstands- und TopografiebestimmungTiziani, Hans J.
1988Automatisierung der optischen QualitätsprüfungTiziani, Hans J.
1993Atmospheric influence on image quality of airborne photographsLei, Fang; Tiziani, Hans J.
19890ptische Methoden der 3-D-Meßtechnik und BildverarbeitungTiziani, Hans J.
1988Anwendung der synthetischen Holografie in der MeßtechnikTiziani, Hans J.
1989Mikro-Profilometrie zur Bestimmung der Topographie und Rauheit technischer Oberflächen mittels Heterodyn-LaserinterferometrieLeonhardt, Klaus; Rippert, Karl-Heinz; Tiziani, Hans J.
1992High precision laser supported close range distance measurementsTiziani, Hans J.
1992Contouring using two-wavelength electronic speckle pattern interferometry employing dual-beam illuminationsDiao, Hongyan; Peng, Xiang; Zou, Yunlu; Tiziani, Hans J.; Chen, L.

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