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Auflistung nach Autor Tiziani, Hans J.
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Autor(en)
1993
Optical techniques for shape measurements
Tiziani, Hans J.
1993
Optische Interferometrie in der Meßtechnik
Tiziani, Hans J.
1972
Optische Methoden zur Schwingungsanalyse der Stimmgabel einer elektronischen Uhr
Tiziani, Hans J.
1987
Optische Mikroprofilometrie und Rauheitsmessung
Leonhardt, Klaus
;
Rippert, Karl-Heinz
;
Tiziani, Hans J.
1992
Optische und optoelektronische Verfahren zur dimensionellen Vermessung
Tiziani, Hans J.
1976
Die optische Ühertragungsfunktion von dezentrierten optischen Systemen
Beyeler, Bernhard H.
;
Tiziani, Hans J.
1991
Optische Verfahren zur Abstands- und Topografiebestimmung
Tiziani, Hans J.
1970
Opto-electronic pattern recognition system
Tiziani, Hans J.
;
Beyeler, Bernhard H.
;
Witz, Werner
1991
Phase shifting in an oblique incidence interferometer
Boebel, Doris
;
Packroß, Bernd
;
Tiziani, Hans J.
1986
Photothermal interferometry for nondestructive subsurface defect detection
Sodnik, Zoran
;
Tiziani, Hans J.
1978
Physical properties of speckles
Tiziani, Hans J.
1998
Positioning of noncooperative objects using joint transform correlation combined with fringe projection
Haist, Tobias
;
Schönleber, Martin
;
Tiziani, Hans J.
1981
Prospects of testing aspheric surfaces with computer-generated holograms
Tiziani, Hans J.
1982
Real time metrology with BSO crystals
Tiziani, Hans J.
1981
Real-time contour holography using BSO crystals
Küchel, Michael
;
Tiziani, Hans J.
1980
Real-time displacement and tilt analysis by a speckle technique using Bi12SiO20-crystals
Tiziani, Hans J.
;
Leonhardt, Klaus
;
Klenk, Jürgen
1982
Real-time measurements in optical metrology
Tiziani, Hans J.
1987
Rechnerunterstützte Laser-Meßtechnik
Tiziani, Hans J.
1987
Remote nondestructive material analysis by photothermal interferometry
Sodnik, Zoran
;
Tiziani, Hans J.
1982
Removing ambiguities in surface roughness measurement
Leonhardt, Klaus
;
Tiziani, Hans J.