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Auflistung nach Autor Leonhardt, Klaus
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Erscheinungsdatum
Titel
Autor(en)
1980
Holography and speckle techniques for real time displacement deformation and vibration analysis
Tiziani, Hans J.
;
Klenk, Jürgen
;
Leonhardt, Klaus
1993
Micro shape and rough surface analysis by fringe projection
Leonhardt, Klaus
;
Droste, Ulrich
;
Schön, Stefan
;
Voland, Christoph
;
Tiziani, Hans J.
1991
Micro-ellipso-height-profilometry
Leonhardt, Klaus
;
Jordan, Hans-Joachim
;
Tiziani, Hans J.
1994
Microshape and rough-surface analysis by fringe projection
Leonhardt, Klaus
;
Droste, Ulrich
;
Tiziani, Hans J.
1989
Mikro-Profilometrie zur Bestimmung der Topographie und Rauheit technischer Oberflächen mittels Heterodyn-Laserinterferometrie
Leonhardt, Klaus
;
Rippert, Karl-Heinz
;
Tiziani, Hans J.
1989
Optical methods of measuring rough surfaces
Leonhardt, Klaus
;
Rippert, Karl-Heinz
;
Tiziani, Hans J.
1987
Optische Mikroprofilometrie und Rauheitsmessung
Leonhardt, Klaus
;
Rippert, Karl-Heinz
;
Tiziani, Hans J.
1980
Real-time displacement and tilt analysis by a speckle technique using Bi12SiO20-crystals
Tiziani, Hans J.
;
Leonhardt, Klaus
;
Klenk, Jürgen
1982
Removing ambiguities in surface roughness measurement
Leonhardt, Klaus
;
Tiziani, Hans J.
1983
Temperature induced deformations in BSO crystals due to photoconductivity
Leonhardt, Klaus
;
Tiziani, Hans J.
1985
Verfahren zur optischen Rauheitsmessung und Mikroprofilometrie
Leonhardt, Klaus
;
Rippert, Karl-Heinz
;
Tiziani, Hans J.