1. OPUS

Auflistung nach Autor Tiziani, Hans J.

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ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
1983Beitrag zur Verwendung von Zernike-Polynomen bei der automatischen InterferenzstreifenauswertungKüchel, Michael; Schmieder, Thomas; Tiziani, Hans J.
1983Berührungslose optische EchtzeitmesstechnikTiziani, Hans J.
1975Beurteilung der Bildqualität mit Hilfe der optischen ÜbertragungsfunktionTiziani, Hans J.
1977Beurteilung der Bildqualität von LuftbildkammernTiziani, Hans J.
1993Beurteilung der Wellenfront von CO2-Lasern mittels phase retrivalHembd, Christian; Tiziani, Hans J.
1992Calibration of the inclined contour planes formed on ESPI and optimization of ESPI optical system for contouringDiao, Hongyan; Zou, Yunlu; Peng, Xiang; Tiziani, Hans J.; Chen, L.
1993Collimating laser diodes with hybrid opticsHaupt, Christoph; Jäger, Ernst; Rothe, Andreas; Daffner, Michael; Tiziani, Hans J.
1994A combined distance and surface profile measurement system for industrial applications : a european projectDocchio, Franco; Perini, Umberto; Tiziani, Hans J.
1988A comparison of methods to measure the modulation transfer function of aerial survey lens systems from the image structuresLei, Fang; Tiziani, Hans J.
1992Computer synchronized 3D-triangulation sensor for robot visionWieland, Paul; Tiziani, Hans J.
1994Contouring by electronic speckle pattern interferometry employing divergent dual beam illuminationZou, Yunlu; Pedrini, Giancarlo; Tiziani, Hans J.
1990Contouring by electronic speckle pattern interferometry employing dual beam illuminationJoenathan, Charles; Pfister, Berthold P.; Tiziani, Hans J.
1992Contouring by electronic speckle pattern interferometry with quadruple-beam illuminationZou, Yunlu; Diao, Hongyan; Peng, Xiang; Tiziani, Hans J.
1992Contouring by modified dual-beam ESPI based on tilting illumination beamsPeng, Xiang; Diao, Hongyan; Zou, Yunlu; Tiziani, Hans J.
1992Contouring using two-wavelength electronic speckle pattern interferometry employing dual-beam illuminationsDiao, Hongyan; Peng, Xiang; Zou, Yunlu; Tiziani, Hans J.; Chen, L.
1987Current state of optical testingTiziani, Hans J.
1994Derivatives obtained directly from displacement dataZou, Yunlu; Pedrini, Giancarlo; Tiziani, Hans J.
1993Design consideration of a dual-beam ESPI optical system for contouringDiao, Hongyan; Zou, Yunlu; Tiziani, Hans J.
1993Design of diffractive optical elements for CO2-laser material processingHaupt, Christoph; Pahlke, Michael; Jäger, Ernst; Tiziani, Hans J.
1984Determination of average roughness and profile autocorrelation width of metallic surfaces with a white light sensorLeonhardt, Klaus; Kaufmann, Ekkehart; Tiziani, Hans J.
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