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2020
Mass-producible micro-optical elements by injection compression molding and focused ion beam structured titanium molding tools
Ristok, Simon
;
Roeder, Marcel
;
Thiele, Simon
;
Hentschel, Mario
;
Guenther, Thomas
;
Zimmermann, André
;
Herkommer, Alois
;
Giessen, Harald
1989
Meeting the optical talent needs of industry in Europe
Tiziani, Hans J.
2020
Methoden zur selbstkalibrierenden Vermessung von Asphären und Freiformen in der Tilted-Wave-Interferometrie
Schindler, Johannes
1993
Micro shape and rough surface analysis by fringe projection
Leonhardt, Klaus
;
Droste, Ulrich
;
Schön, Stefan
;
Voland, Christoph
;
Tiziani, Hans J.
1991
Micro-ellipso-height-profilometry
Leonhardt, Klaus
;
Jordan, Hans-Joachim
;
Tiziani, Hans J.
1994
Microshape and rough-surface analysis by fringe projection
Leonhardt, Klaus
;
Droste, Ulrich
;
Tiziani, Hans J.
1989
Mikro-Profilometrie zur Bestimmung der Topographie und Rauheit technischer Oberflächen mittels Heterodyn-Laserinterferometrie
Leonhardt, Klaus
;
Rippert, Karl-Heinz
;
Tiziani, Hans J.
1989
Modulation transfer function obtained from image structures
Lei, Fang
;
Tiziani, Hans J.
2023
Needle-based electrical impedance imaging technology for needle navigation
Liu, Jan
;
Atmaca, Ömer
;
Pott, Peter Paul
1983
Neue Entwicklungen der berührungslosen optischen Meßverfahren
Tiziani, Hans J.
1986
Eine neue Methode zur Bestimmung der MTF aus dem Kantenbild
Lei, Fang
;
Tiziani, Hans J.
1987
New light valve based in photoinduced space charge fields in BSO-crystals
Tiziani, Hans J.
;
Höller, Frank S.
1988
Nondestructive evaluation of solids by photothermal interferometry on nonreflective surfaces
Sodnik, Zoran
;
Tiziani, Hans J.
1992
A novel approach to determine decorrelation effect in a dual-beam electronic speckle pattern interferometer
Peng, Xiang
;
Diao, Hongyan
;
Zou, Yunlu
;
Tiziani, Hans J.
1990
Oberflächenmesstechnik mit optischen Verfahren
Tiziani, Hans J.
1986
Objektvermessung mit bildanalysegestützten 3D-Meßverfahren : allgemeine Angaben zum Teilprojekt C6
Tiziani, Hans J.
1994
Oblique incidence and observation electronic speckle-pattern interferometry
Joenathan, Charles
;
Franze, Bernhard
;
Tiziani, Hans J.
1984
On the application of synthetic holograms for testing aspheric surfaces
Tiziani, Hans J.
;
Dörband, Bernd
1992
On the measurement of image disturbance in aerial photography
Tiziani, Hans J.
2014
Opposed-view dark-field digital holographic microscopy
Faridian, Ahmad
;
Pedrini, Giancarlo
;
Osten, Wolfgang