1. OPUS

Auflistung nach Institut Institut für Technische Optik

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ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
1983Holographic interferometry and speckle metrology : a review of the present stateTiziani, Hans J.
1993Holographisch-optische Elemente zur Strahlformung : Teilprojekt A1Haupt, Christoph; Pahlke, Michael; Jäger, Ernst; Tiziani, Hans J.
1980Holography and speckle techniques for real time displacement deformation and vibration analysisTiziani, Hans J.; Klenk, Jürgen; Leonhardt, Klaus
2021Improvement in systematic error in background-oriented schlieren results by using dynamic backgroundsReichenzer, Frieder; Schneider, Mike; Herkommer, Alois
2023Injection molding of encapsulated diffractive optical elementsWagner, Stefan; Treptow, Kevin; Weser, Sascha; Drexler, Marc; Sahakalkan, Serhat; Eberhardt, Wolfgang; Guenther, Thomas; Pruss, Christof; Herkommer, Alois; Zimmermann, André
2012Inkrementale und absolute Kodierung von Positionssignalen diffraktiver optischer DrehgeberHopp, David Maximilian
1993Interferometry for high resolution absolute distance measuring by larger distancesDalhoff, Ernst; Fischer, Edgar; Kreuz, Silke; Tiziani, Hans J.
1999Iterative nonlinear joint transform correlation for the detection of objects in cluttered scenesHaist, Tobias; Tiziani, Hans J.
1991Kohärent-optische Verfahren in der OberflächenmeßtechnikTiziani, Hans J.
1988Laser application for precision measurementsTiziani, Hans J.
1993Laser speckleTiziani, Hans J.
1987Lasergestützte MeßtechnikTiziani, Hans J.
2020Mass-producible micro-optical elements by injection compression molding and focused ion beam structured titanium molding toolsRistok, Simon; Roeder, Marcel; Thiele, Simon; Hentschel, Mario; Guenther, Thomas; Zimmermann, André; Herkommer, Alois; Giessen, Harald
1989Meeting the optical talent needs of industry in EuropeTiziani, Hans J.
2020Methoden zur selbstkalibrierenden Vermessung von Asphären und Freiformen in der Tilted-Wave-InterferometrieSchindler, Johannes
1993Micro shape and rough surface analysis by fringe projectionLeonhardt, Klaus; Droste, Ulrich; Schön, Stefan; Voland, Christoph; Tiziani, Hans J.
1991Micro-ellipso-height-profilometryLeonhardt, Klaus; Jordan, Hans-Joachim; Tiziani, Hans J.
1994Microshape and rough-surface analysis by fringe projectionLeonhardt, Klaus; Droste, Ulrich; Tiziani, Hans J.
1989Mikro-Profilometrie zur Bestimmung der Topographie und Rauheit technischer Oberflächen mittels Heterodyn-LaserinterferometrieLeonhardt, Klaus; Rippert, Karl-Heinz; Tiziani, Hans J.
1989Modulation transfer function obtained from image structuresLei, Fang; Tiziani, Hans J.
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