1. OPUS

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ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
2023Needle-based electrical impedance imaging technology for needle navigationLiu, Jan; Atmaca, Ömer; Pott, Peter Paul
1983Neue Entwicklungen der berührungslosen optischen MeßverfahrenTiziani, Hans J.
1986Eine neue Methode zur Bestimmung der MTF aus dem KantenbildLei, Fang; Tiziani, Hans J.
1987New light valve based in photoinduced space charge fields in BSO-crystalsTiziani, Hans J.; Höller, Frank S.
1988Nondestructive evaluation of solids by photothermal interferometry on nonreflective surfacesSodnik, Zoran; Tiziani, Hans J.
1992A novel approach to determine decorrelation effect in a dual-beam electronic speckle pattern interferometerPeng, Xiang; Diao, Hongyan; Zou, Yunlu; Tiziani, Hans J.
1990Oberflächenmesstechnik mit optischen VerfahrenTiziani, Hans J.
1986Objektvermessung mit bildanalysegestützten 3D-Meßverfahren : allgemeine Angaben zum Teilprojekt C6Tiziani, Hans J.
1994Oblique incidence and observation electronic speckle-pattern interferometryJoenathan, Charles; Franze, Bernhard; Tiziani, Hans J.
1984On the application of synthetic holograms for testing aspheric surfacesTiziani, Hans J.; Dörband, Bernd
1992On the measurement of image disturbance in aerial photographyTiziani, Hans J.
2014Opposed-view dark-field digital holographic microscopyFaridian, Ahmad; Pedrini, Giancarlo; Osten, Wolfgang
1989Optical 3-D-measurement techniques : a surveyTiziani, Hans J.
1998Optical detection of random features for high security applicationsHaist, Tobias; Tiziani, Hans J.
1989Optical methods for precision measurementsTiziani, Hans J.
1993Optical methods for surface measurements : state of the artTiziani, Hans J.
1986Optical methods in engineering measurementsTiziani, Hans J.
1989Optical methods of measuring rough surfacesLeonhardt, Klaus; Rippert, Karl-Heinz; Tiziani, Hans J.
1993Optical techniques for shape measurementsTiziani, Hans J.
2009Optimierung von Flüssigkristall-Lichtmodulatoren in aktiven optischen SystemenKohler, Christian
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