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Erscheinungsdatum
Titel
Autor(en)
1990
TESTCHIP: a chip for weighted random pattern generation, evaluation, and test control
Ströle, Albrecht P.
;
Wunderlich, Hans-Joachim
;
Haberl, Oliver F.
1991
Maximizing the fault coverage in complex circuits by minimal number of signatures
Wunderlich, Hans-Joachim
;
Ströle, Albrecht P.
1992
Prüfgerechter Entwurf und Test hochintegrierter Schaltungen
Wunderlich, Hans-Joachim
;
Schulz, Michael H.
1992
Optimized synthesis techniques for testable sequential circuits
Eschermann, Bernhard
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1989
Parametrisierte Speicherzellen zur Unterstützung des Selbsttests mit optimierten und konventionellen Zufallsmustern
Kesel, Frank
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1989
The synthesis of self-test control logic
Haberl, Oliver F.
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1987
The random pattern testability of programmable logic arrays
Wunderlich, Hans-Joachim
1994
A unified method for assembling global test schedules
Ströle, Albrecht P.
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1988
Integrated tools for automatic design for testability
Schmid, Detlef
;
Wunderlich, Hans-Joachim
;
Feldbusch, Fridtjof
;
Hellebrand, Sybille
;
Holzinger, Jürgen
;
Kunzmann, Arno
1989
The pseudo-exhaustive test of sequential circuits
Wunderlich, Hans-Joachim
;
Hellebrand, Sybille
Facetten
Autor
9
Hellebrand, Sybille
7
Ströle, Albrecht P.
6
Eschermann, Bernhard
4
Kunzmann, Arno
3
Haberl, Oliver F.
3
Schulz, Michael H.
2
Kesel, Frank
2
Rosenstiel, Wolfgang
2
Schmid, Detlef
2
Stern, Olaf
.
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Dokumentart
38
Konferenzbeitrag
9
Zeitschriftenartikel
1
Buch
Erscheinungsdatum
5
1994
5
1992
7
1991
10
1990
6
1989
6
1988
4
1987
2
1986
2
1985
1
1984
.
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