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Auflistung nach Autor Tiziani, Hans J.
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Titel
Autor(en)
1980
Holography and speckle techniques for real time displacement deformation and vibration analysis
Tiziani, Hans J.
;
Klenk, Jürgen
;
Leonhardt, Klaus
1978
Image quality criteria for aerial survey lenses
Tiziani, Hans J.
1993
Interferometry for high resolution absolute distance measuring by larger distances
Dalhoff, Ernst
;
Fischer, Edgar
;
Kreuz, Silke
;
Tiziani, Hans J.
1999
Iterative nonlinear joint transform correlation for the detection of objects in cluttered scenes
Haist, Tobias
;
Tiziani, Hans J.
1991
Kohärent-optische Verfahren in der Oberflächenmeßtechnik
Tiziani, Hans J.
1988
Laser application for precision measurements
Tiziani, Hans J.
1993
Laser speckle
Tiziani, Hans J.
1987
Lasergestützte Meßtechnik
Tiziani, Hans J.
1973
Measurement of small movements and vibrations by laser photography
Tiziani, Hans J.
1989
Meeting the optical talent needs of industry in Europe
Tiziani, Hans J.
1993
Micro shape and rough surface analysis by fringe projection
Leonhardt, Klaus
;
Droste, Ulrich
;
Schön, Stefan
;
Voland, Christoph
;
Tiziani, Hans J.
1991
Micro-ellipso-height-profilometry
Leonhardt, Klaus
;
Jordan, Hans-Joachim
;
Tiziani, Hans J.
1994
Microshape and rough-surface analysis by fringe projection
Leonhardt, Klaus
;
Droste, Ulrich
;
Tiziani, Hans J.
1989
Mikro-Profilometrie zur Bestimmung der Topographie und Rauheit technischer Oberflächen mittels Heterodyn-Laserinterferometrie
Leonhardt, Klaus
;
Rippert, Karl-Heinz
;
Tiziani, Hans J.
1989
Modulation transfer function obtained from image structures
Lei, Fang
;
Tiziani, Hans J.
1983
Neue Entwicklungen der berührungslosen optischen Meßverfahren
Tiziani, Hans J.
1986
Eine neue Methode zur Bestimmung der MTF aus dem Kantenbild
Lei, Fang
;
Tiziani, Hans J.
1987
New light valve based in photoinduced space charge fields in BSO-crystals
Tiziani, Hans J.
;
Höller, Frank S.
1988
Nondestructive evaluation of solids by photothermal interferometry on nonreflective surfaces
Sodnik, Zoran
;
Tiziani, Hans J.
1992
A novel approach to determine decorrelation effect in a dual-beam electronic speckle pattern interferometer
Peng, Xiang
;
Diao, Hongyan
;
Zou, Yunlu
;
Tiziani, Hans J.